Fujiwork富士 无纺布专用测厚仪 S-2716 该夹具可让您直接切割至适合薄膜测试仪测量的宽度 切割好的薄膜可以直接放入薄膜测试仪中

Fujiwork富士 无纺布专用测厚仪 S-2720 这是一种以恒定张力卷绕被测薄膜的装置。 薄膜卷绕可以实现自动化，使操作员能够集中精力进行测量，并且可以将卷绕的薄膜与其滚轮一起从设备中取出

Fujiwork富士 无纺布专用测厚仪 HKT-Lite1.0F 一种无纺布厚度测定装置，能够进行与JIS一般无纺布试验方法（JIS L 1913：2010）中记载的厚度测定方法的方法A相同的测定。 测量头为扁平测量头，直径为56.4mm。 测量分辨率 1μm 测量范围 5mm

Fujiwork富士 薄膜测厚仪 连续厚度测量仪 HKT-Lite0.1 无绳轻型固定测量仪器 即使在没有电源的地方也能轻松进行0.1μm的测量。一种通过保持测量头的下降速度恒定来消除测量偏差的测量装置 测量分辨率 0.1μm 测量范围 8mm

Fujiwork富士 薄膜测厚仪 连续厚度测量仪 HKT-Master0.01BBL 如果要测量的物体很大，建议这样做。 这是HKT-Master0.01BB的大型舞台版本。 *除测量支架外的产品规格与HKT-Master0.01BB相同。 测量台 石面板型 尺寸 约 200mm 长 x 150mm 宽 x 300mm 高